Клиентам / Услуги / Технологии
Технологии
- ТЕХНОЛОГИЯ ВАКУУМНЫХ СВЧ-ПРИБОРОВ
- КАТОДНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
- ТЕХНОЛОГИЯ ГИБРИДНО-ИНТЕГРАЛЬНЫХ СВЧ-СХЕМ
- ЭПИТАКСИАЛЬНЫЕ СТРУКТУРЫ
- КРИСТАЛЬНОЕ ПРОИЗВОДСТВО
- КЕРАМИЧЕСКОЕ ПРОИЗВОДСТВО
- ХИМИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ
- ЛАЗЕРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
Технология вакуумных СВЧ-приборов
Базовый технологический процесс современного СВЧ электровакуумного прибора содержит 5...8 тыс. технологических операций. Число деталей в приборе достигает 300...500 единиц. При разработке и производстве используются следующие процессы:
- электроискровая обработка замедляющих и резонаторных систем, сеток электронных пушек, магнитов и др., фотолитография, лазерная и прецизионная механическая обработка. Точность изготовления прецизионных деталей в пределах 1...10 микрон.
Основные материалы деталей - медь и её сплавы, молибден, низкоуглеродистая и нержавеющая стали, сплав ковар, никель, тантал, титан, магнитные и катодные материалы и др.
- операции по сборке деталей и узлов с применением контактной и лазерной сварки. Сборка различных узлов приборов для последующих операций пайки и сварки.
Монтаж катодов, электродов, сеток для электронных пушек и др. - высотемпературная пайка припоями на основе Cu, Ag, Au (700...1100 °С) в защитной среде (водород, вакуум).
Основные узлы - анодные блоки, выводы энергии, замедляющие системы, электронные пушки, коллекторы, металлокерамические узлы и др.
Диффузионная сварка разнородных металлов (T=900...1000°С, P=0,6...1,2 кг/мм). Многослойные композиции металлов, сплавов для различных узлов ЭВП: медь-железо, медь-молибден-железо, медь-константан и др.
Диффузионная низкотемпературная пайка (T=600...700°С, Р=0,1...0,3 кг/мм2) через прослойку золота (без применения припоев) для приборов мм-диапазона
Герметизация приборов:
Аргонодуговая сварка (диапазон токов 0...200 А).
Электронно-лучевая сварка (ток луча 40...200 мА, диаметр луча 0,2...0,4 мм, напряжение 25...50 кВ). Концентраторная высокочастотная пайка.
Откачка приборов
Термовакуумная обработка (500...600 °С) на откачных постах с турбомолекулярными насосами и напуском водорода
(Р =10-2 Па). Высоковольтная тренировка (Uа = 10...60 кВ) межэлектродных зазоров в отпаянных приборах. Откачка современными магнитными электроразрядными насосами (скорость откачки S = 0,5...2,0 л/с, U = 4...5 кВ, индукция 0,2...0,3 Т).
Катодная электроника
Катодная электроника оказывает определяющее влияние на получение высоких параметров, надёжности и долговечности электровакуумных приборов:
Оксидные катоды
Металлопористые катоды
Металлосплавные катоды
Созданы основы конструирования и базовые унифицированные технологии всех современных типов высокоэффективных катодов.
Применение | Плотность тока, A/см2 | Долговечность, ч | |
---|---|---|---|
постоянный режим | импульсный режим | ||
Оксидные катоды создано 200 типов | |||
Мощные усилительные клистроны | - | 5 | 10000 |
ЭСУ и ЦЗУ ленточные катоды с молеулярно-напылённым оксидным слоем | 3 | - | 1000 |
Сверхдолговечные ЛБВ | 0,15 | - | 100000 |
Металлопористые катоды создано 150 типов | |||
Многолучевые клистроны | - |
10 15 30 |
20000 10000 5000 |
ЛОВ мм-диапазона | 50 | - | 2000 |
ЛБВ | 2 | - | 50000 |
Металлосплавные катоды создано 20 типов | |||
ЛОВ мм-диапазона | 100 | - | 2000 |
Магнетроны мм-диапазона | - | 150 | 2000 |
Магнетронные усилители ("холодные" катоды) | - | 5 | 20000 |
Предприятие обладает тридцатилетним опытом разработки и изготовления тонкопленочных микрополосковых плат и ГИС СВЧ на их основе.
Высоконадежная унифицированная технология, закрепленная соответствующими стандартами, обеспечивает выпуск надежной и качественной продукции.
Полный цикл технологических процессов: автоматизированное проектирование и изготовление фотошаблонов, вакуумное (резистивное, электронно-лучевое, магнетронное) напыление проводящих и резистивных пленок, прецизионная фотолитография, лазерная прецизионная прошивка отверстий и размерная обработка подложек, химическая металлизация отверстий и гальваническое наращивание слоев Cu, Ni, Au, прецизионная резка подложек алмазными дисками - обеспечивает ежемесячный выпуск около 10000 микрополосковых плат более 100 типоразмеров с основными характеристиками:
- материал подложек - поликор, феррит-гранат, кварц
- структура металлизации проводящих слоев: Cr, Cu, Ni, Au; Ti, Pd, Au
- минимальные размеры линий 20 мкм, точность ± 1,5 мкм
- минимальный диаметр металлизированных отверстий 0,15 мм
- коэффициент затухания (потери) в полосках на частоте 8 ГГц - 8 дБ/м
Линии сборки и испытаний ГИС и СВЧ-модулей: установка кристаллов активных и пассивных компонентов, микросварка (контактная, термокомпрессионная, ультразвуковая, термозвуковая), сборка модулей, термообезгаживание, герметизация модулей СВЧ, испытания на воздействие дестабилизирующих факторов - обеспечивает выпуск более 5000 СВЧ-модулей в год.
Технология изготовления антенн
Разработанные уникальные процессы высокотемпературной и низкотемпературной пайки позволили создать надежную технологию сборки и пайки плоских щелевых антенн диаметром 200...1000 мм с волноводной СВЧ - разводкой, а также микрополосковых антенн в диапазоне.
Эпитаксиальные структуры
Распределение примесей в структурах кремния для p-i-n-диодов, варикапов и лавинно-пролетных диодов (ЛПД)
Характеристики эпитаксиальных структур
Тип приборов | Тип структур | Вид примесей | Число слоёв | толщина слоёв, мкм | Уровень легирования, см-3 |
---|---|---|---|---|---|
ЛПД |
p++pp+n+nn++ p++pnn++ n++npp++p- |
B; P; As | 1...6 | 0,1...5 | 1015...1020 |
p-i-n-диод | p+++n-n++
n++p-p++ |
B; P | 1...3 | 1...20 | 1013...1019 |
Варикап | p++n+n++ | B; P; As | 3...10 | 0,1...3 | 1015...1020 |
Технологический комплекс газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений
Комплекс AIXTRON-G3 предназначен для производства гетероструктур AlxGa1-xAs/GaAs, InyGa1-yAs/GaAs, InyAl1-yAs/GaAs, InyAl1-yAs/InP (НЕМТ, PНЕМТ, МНЕМТ и др.) для дискретных приборов и МИС СВЧ.
Толщина слоев | 2...1000 нм |
---|---|
Неоднократность по толщине | 1,5% |
По уровню легирования | 3,0% |
Подвижность 770К | не менее 80000 см2/vc |
Производительность Ø76, Ø101 | 10 шт/смена |
Диодные сборки
Предельно допустимые | Напряжение изоляции, В | |
---|---|---|
Напряжение, В | Ток, мкА | |
600 | 100 | 1700 |
1200 | 50 | 1700 |
100 | 100 | 1700 |
Транзисторные сборки
Предельно допустимые | Напряжение изоляции, В | |
---|---|---|
Напряжение, В | Ток, мкА | |
200 | 25 | 2500 |
100 | 25 | 2500 |
700 | 2000 | 6000 |
200 | 25 | 2500 |
200 | 25 | 2500 |
Металлизированные теплопроводы из CVD алмаза
Размеры AxB (мм) | Толщина (мм) | Высокоадгезионная металлизация со всех сторон | Электрическая изоляция между верхней и нижней металлизацией |
3х3,5 | 0,1...0,5 | + | + |
5х5 | 0,1...0,5 | + | + |
Кристальное производство
Монолитные интегральные схемы СВЧ (МИС СВЧ)
На НПП "Исток" построена пилотная линия для промышленного производства монолитных интегральных схем и транзисторов СВЧ-диапазона на основе GаАs, предназначенных для применения в телекоммуникационной радиоэлектронной аппаратуре.
На предприятии освоены самые передовые технологические процессы изготовления МИС и транзисторов СВЧ: электронно-лучевая и проекционная фотолитография, ионная имплантация и плазмохимия, что позволяет довести объем выпуска кристаллов до 1 млн шт. в год.
Основные технологические процессы производства МИС СВЧ.
Формирование эпитаксиальных структур | Формирование канала | Формирование резисторов |
---|---|---|
Формирование контактов | Резисторы | |
Контакты | Канал | Формирование конденсаторов |
Формирование мезоструктуры | Формироваие затвора | |
Мезоструктура | Затвор | Конденсаторы |
Формирование металлизации и мостов | Формирование отверстий |
Мосты | Формирование интегрального теплоотвода |
Утонение подложки | |
Керамическое производство
Технология LTCC в СВЧ-приборостроении
Освоено опытное производство малогабаритных многослойных керамических плат с высокоинтегрированной объемной компоновкой цепей питания, управления и СВЧ-трактов в объеме платы. Новые материалы и разработанная технология позволят проектировать широкую номенклатуру компактных п/п приборов и устройств СВЧ с рабочей частотой до 40 ГГц, предназначенных для работы в составе приемопередающих трактов аппаратуры связи, бортовых и наземных радиолокационных и радионавигационных систем гражданского и специального назначения.
Полосно-пропускающие фильтры | |
---|---|
Диапазон частот, ГГц | 1...4 |
Полоса пропускания, % | 2...10 |
Потери в полосе пропускания, дБ | до 6 |
Заграждение, дБ | 70...75 |
КСВН | менее 2,0 |
Проходная мощность, Вт | до 1 |
Многослойные коммутационные платы с СВЧ-трактом и малогабаритные корпуса СВЧ-транзисторов и интегральных схем | |
---|---|
Число слоев | до 20 |
Диэлектрик | ε=7, tgδ=15·10-4 |
Проводники | драгметаллы |
Базовые керамические материалы
Вакуум-плотная алюмооксидная керамика ВК94-1 Алюмооксидный материал А995 Монокристаллический лейкосапфир (металлизация) Керамика с высокой теплопроводностью ВеО, ВN (металлизация) Основные свойства: Низкие диэлектрические потери ε=6...10, tgδ=2...16·10-4; Высокая механическая прочность σ=25...39 кг/мм2; Радиационная стойкость; Теплопроводность λ=20...200 Вт/м·К; Рабочие температуры применения до 1500 °С. |
|
Металлизированная керамика и металлокерамические узлы
На базе процессов толстопленочной и тонкопленочной металлизаций керамики и четырех методов соединения керамики с металлами посредством пайки припоями, стеклоприпоями, сварки при температурах от 180 до 1300 °С созданы унифицированные вакуум-плотные надежные конструкции металлокерамических узлов.
Функциональная керамика
ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ РЕЗОНАТОРЫ | |
|
|
КОАКСИАЛЬНЫЕ РЕЗОНАТОРЫ | |
|
|
ПОГЛОТИТЕЛИ СВЧ-ЭНЕРГИИ | |
|
|
КЕРАМИКА НА ОСНОВЕ ALN | |
|
|
Химические технологии
Силиконовые компаунды для мощных приборов
Теплопроводный компаунд - теплопроводность 0,9 Вт/мк | Поглащающий компаунд - поглощение электромагнитной энергии 2 дБ/мм |
Компаунд для виброакустической защиты - cнижает акустическое давление на 10...15 дБ, воздействие вибраций в 40...50 раз в диапазоне 100...200 Гц. | Защитный компаунд - электромеханическая прочность 15 кВ/мм. Механическая прочность более 20 кгс/см2 |
Микрополосковые платы для изделий миллиметрового диапазона
Материал подложки | фторопласт, полиамид | |
Толщина меди | 5...9мкм | |
Толщина плат | 70...20 мкм | |
Точность изготовления | +5 мкм | |
Потери | 0,1...0,2 дБ/см | |
Фотохимическое фрезерование
Материал | металлы и их сплавы |
Толщина материала | 0,01...0,2мкм |
Размеры деталей | от 2 до 200 мм |
Точность изготовления | ±10% от толщины материала |
Сетки, диафрагмы, растры и другие
Антенные полотна
Клеи
Механически прочные | 80 мПа |
Эластичные | относительное удлинение 20% |
Поглощающие | СВЧ-энергию 2 дБ/мм |
Электропроводные | ρU=2·10-5 Ом/см |
Лазерные технологии
Автоматизированная лазерная технологическая установка (АЛТУ) "Каравелла" на базе лазера на парах меди
Удостоена золотых медалей на:
- IV Московском Международном Салоне инноваций и инвестиций (февраль 2004 г.)
- 53-м Всемирном Салоне инноваций, научных исследований и новых технологий "Brussels-Eureka"(ноябрь 2004 г.)
- Золотая медаль на VII Международном Форуме "Высокие технологии XXI века" (апрель 2006 г.)
АЛТУ "КАРАВЕЛЛА-1М" | АЛТУ "КАРАВЕЛЛА-2" |
Назначение: производительная прецизионная микрообработка тонколистовых материалов (0,02...1,0 мм), неметаллических - до 1,5...2мм.
Технические характеристики АЛТУ "Каравелла"
Наименование параметра | Каравелла-1М | Каравелла-2 |
---|---|---|
Длины волн излучения, нм | 510,6 и 578,2 | |
Диаметр пучка излучения, мм | 14 | |
Частота повторения импульсов, кГц | 12...15 | |
Длительность импульса излучения (по уровню 0,5), нс | 10...15 | |
Средняя мощность излучения, Вт | 20...25 | 5...7 |
Нестабильность средней мощности излучения в течении 4 часов, % | ≤3 | |
Импульсная энергия, мДж | 0,5...1,5 | 0,3...0,6 |
Расходимость пучка излучения, мрад | 0,1...0,2 | 0,1...0,2 |
Фокусное расстояние объектива, мм | 50...150, 200...300 | 50...100 |
Диаметр рабочего пятна излучения, мкм | 5...20 | |
Перемещение координатного стола в плоскости XY, мм | 150x150 | |
Перемещение координатного стола по вертикальной оси Z, мм | 60 | |
Максимальная скорость перемещения координатного стола, мм/с | 20 | |
Погрешность позиционнирования по каждой оси при (20±1°С), мкм | ±2 | |
Время готовности, мин | 60 | |
Потребляемая мощность от трехфазной сети, кВт | ≤5,3 | ≤3 |
Система охлаждения и расхода воды, л/мин | "вода-вода" | "вода" |
20 | 6 | |
Габаритные размеры, мм | 2600х2100х1650 | 2200х1700х1830 |
Масса, кг | ≤1200 | ≤800 |
Гаратированная наработка без замены активных элементов, ч | >1500 | |
Технический ресурс, лет | 5 | |
Толщина обрабатываемых материалов, мм | ||
Металических | 0,1...1 | 0,02-0,3 |
Неметалических | до 2 | до 0,8 |
Спектр обрабатываемых материалов
|
Виды выполняемых операций
|
Базовый состав установки
- Лазер на парах меди.
- Прецизионная трехкоординатная система перемещения с блоком управления.
- Оптическая система формирования, доставки и фокусировки пучка излучения в зону обработки.
- Технологическая камера.
- Система поддува технологического газа в зону обработки.
- Система удаления продуктов разрушения из зоны обработки.
- Несущая конструкция.
Преимущества
Технологические:
- бесконтактный способ обработки;
- малый размер обрабатывающего пятна (5...20 мкм);
- испарительный режим обработки (минимум жидкой фазы);
- малая шероховатость поверхности реза (1...2 мкм);
- малая зона термического воздействия (5...10 мкм);
- высокая точность обработки (4...10 мкм);
- отсутствие расслоений и сколов материала (Mo, W);
- высокая производительность(Vобр= 1...10 мм/с).
Конструктивные:
- быстродействующая электронная система прерывания мощности излучения;
- система наблюдения с использованием усилительного лазерного активного элемента;
- высокая повторяемость и стабильность параметров лазерных активных элементов;
- большая долговечность и возможность оперативной замены активных элементов;
- простота настройки установки.
Преимущества обеспечены:
- возможностью поимпульсной и пакетной модуляции лазерного излучения;
- отпаянной конструкцией лазерных активных элементов на парах меди;
- источником питания лазера с коммутирующим элементом на основе транзисторов IJBT;
- многолетним опытом применения излучения ЛПМ в технологии прецизионной обработки материалов.
Перспективные области применения
- Электронная промышленность: изготовление сеток, диафрагм, электродов и других деталей ЭВП, теплоотводов и элементов из искусственного алмаза, разделение подложек.
- Точное приборостроение: изготовление диафрагм, матриц и элементов конструкций, маркировка инструмента.
- Автомобильная промышленность: производство форсунок двигателей, термонагруженных датчиков.
- Химическая промышленность: производство фильер, тоновая маркировка изделий.
- Медицинская промышленность: катетеры, зонды, расширители артерий.
- Ювелирная промышленность: раскрой и обработка драгоценных материалов, изготовление сувениров и нанесение изображений в прозрачных средах и т.д.
Результаты прецизионной обработки
Пазы в вольфраме (W) толщиной 0,2 мм |
Отверстия в псевдосплаве (МД-80) толщиной 0,6 мм | Рез кремния (Si) толщиной 1 мм | Фрагмент сферической сетки из молибдена (МЧ) толщиной 0,07 мм |
Отверстия на меди (МВ) толщиной 0,3 мм |
Рез поликристаллического алмаза толщиной 0,35 мм |
Измерительный зонд из Ni толщиной 0,1 мм | Молибден 0,4 мм | ЧИП на сапфировой подложке 0,3 мм | Чистка поверхности керамики 22XC | Корректировка топологии. Материал - поликор, напыление - золото | Молибден 0,1-0,16 мм | Кремний 0,5 мм | Медь МВ 0,1...0,3 мм | Резка сапфировых подложек |